Phenom GSR es un sistema automático para la detección y análisis de residuo de disparo de armas de fuego, que incluye un software de clasificación y análisis, combinado con un microscopio de barrido electrónico (SEM) Phenom XL y un detector EDX integrado. Tanto el software y hardware están completamente integrados para generar una plataforma analítica extremadamente fácil de utilizar uso, robusta y de alta velocidad.

El software del Phenom GSR está basado en asistente guiado de 4 pasos al fin de maximizar la información colectada en cada análisis en forma rápida y robusta. El asistente se caracteriza por su uso intuitivo permitiendo al usuario analizar múltiples muestras en forma totalmente automática. Para todas las partículas detectadas, se guardan tanto las imágenes obtenidas con el SEM así como los resultados del análisis elemental realizado por el EDX de forma de permitir al usuario revisitar cada partícula encontrada y acceder a la información obtenida al fin de validar los resultados.

El software Phenom GSR también ofrece opciones variadas en la forma de informar los resultados. Obviamente, Phenom GSR cumple con la norma estándar vigente ASTM E1588 para el análisis GSR y está equipado con las disposiciones estándares provistas por ENFSI (Red Europea de Institutos de Ciencias Forenses).

Detección y análisis de residuo de disparo de armas de fuego (GSR, GunShot Residue)

El análisis de residuos originados por disparos de armas de fuego (GSR) juega un rol primordial en la investigación de asesinatos, suicidios, etc, al fin de brindar evidencia científica sobre si se ha utilizado un arma de fuego. Las técnicas de análisis GSR aceptadas por la comunidad forense se basan en el uso de un Microscopio de Barrido Eléctrico (SEM, del inglés Scanning Electron Microscope), que se utiliza para buscar en la en la muestra partículas que se sospechan que provienen de GSR. En el caso de encontrar una partícula sospechosa, se utiliza un detector de rayos X dispersivo en Energía (EDX) para identificar los elementos que componen dicha partícula. El criterio más común utilizado es asegurar la presencia de Pb, Sb, y Ba. Sin embargo, también pude requerirse otros elementos, como ser Ti y Zn, para la detección de iniciadores libres de Pb.

Phenom XL

El software Phenom GSR está integrado a un microscopio electrónico de barrido (SEM) modelo Phenom XL, fabricado por Phenom-World, una empresa spin-off de la prestigiosa compañía FEI. El Phenom XL es un SEM inigualable; se instala sobre una mesada común, de uso sorprendentemente fácil, equipado con un porta muestras motorizado que permite cubrir una superficie de muestreo de 100 mm x 100 mm. Como estándar el porta muestra permite albergar 36 pin stubs. Con un tiempo de carga de apenas 1 minuto, es una herramienta ideal para el para aplicaciones que requieran un análisis automático de alto desempeño y velocidad como ser el Phenom GSR.

El Phenom XL utiliza una fuente de electrones de CeB6, asegurando una operación extremadamente estable con un vida media superior a las 1500 horas, por lo que es ideal en términos de utilización, requerimientos de servicio y tiempo de servicio activo.

El Phenom XL no requiere de condiciones especiales de instalación, como ser aire comprimido, enfriadores, nitrógeno líquido, aislamiento de campos eléctricos o magnéticos, recirculadores de agua, etc., teniendo a su vez una huella de CO2 muy baja (el pico de consumo es de 300 W, siendo el consumo típico inferior a los 200 W durante su operación). Además Phenom XL se transporta fácilmente, su instalación es muy sencilla, por lo que puede reubicarse sin inconvenientes ni dificultades.

El Phenom XL utiliza un detector EDX de alta calidad totalmente integrado y que no requiere de nitrógeno líquido. Este detector admite alta frecuencia de cuentas de forma de minimizar el tiempo de adquisición.

Phenom GSR utiliza un control interno del SEM. En combinación con el porta muestra motorizado permite un posicionamiento más exacto del haz de electrones y por ende mejores resultados.

Microscopio de barrido electrónico (SEM)

• Fuente: CeB6 (vida útil > 1500 hs.)
• Resolución: 20 nm (a 10 kV)
• Voltaje Aceleración: 4.8 kV – 20 kV (continuo)
• Porta muestra motorizado de 100 mm x 100 mm
• Hasta 36 pin-stubs de muestreo
• Tiempo de carga: 1 min (aprox.)
• Opcional: porta muestra motorizado eucéntrico de 4-ejes

Sistema de detección EDX

• Detector de deriva de silicio (SDD) totalmente integrado
• Detección de elementos desde B a Am
• Área activa: 25 mm2
• Resolución en energía: ≤ 137eV
• Enfriamiento por efecto Peltier, no requiere nitrógeno líquido
• Desempeño probado en laboratorios forenses

Análisis automático y software de clasificación

• Interface de usuario basada en un asistente de 4 pasos de uso intuitivo
• Cumplimento de ASTM E1588
• Más de 90% en tasa de hallazgos en muestras artificiales Plano de GSR
• Cumplimiento con Guías ENFSI 2006 de Buenas Prácticas
• Capacidades extensivas de informes
• Permite revisita manual de partículas y validación